Термическое оксидирование (Myjbncyvtky ktvn;njkfguny)
Оксидирование кремния (Si) — процесс создания оксидной плёнки (диоксида кремния SiO2) на поверхности кремниевой подложки.
Задача оксидирования — вырастить высококачественный слой оксида на подложке из кремния. Оксид кремния получается в процессе химической реакции между кислородом и кремнием. Кислород содержится в окислительной среде, с которой контактирует поверхность подложки, нагретой в печи. В качестве окислительной среды обычно используется сухой или влажный (с паром) кислород.
Химическая реакция
[править | править код]Термическое оксидирование кремния обычно производят при температурах между 800 и 1200°C. В результате получается слой высокотемпературного оксида (High Temperature Oxide layer). Это может производиться как в парах воды, так и когда в роли окислителя выступает молекулярный кислород, что, соответственно, называется влажным (wet) или сухим (dry) окислением. При этом происходит одна из следующих реакций:
Окислительная среда может также содержать несколько процентов соляной кислоты. Хлор удаляет ионы металла, что могут присутствовать в оксиде.
Применение слоёв SiO2
[править | править код]Слои диоксида кремния используются в электронике:
- как маска для диффузии легирующих примесей
- для пассивации поверхности полупроводников
- для изоляции отдельных элементов СБИС друг от друга
- в качестве подзатворного диэлектрика
- в качестве одного из многослойных диэлектриков в производстве МНОП элементов памяти
- в качестве изоляции в схемах с многослойной металлизацией
- как составная часть шаблона для рентгеновской литографии
Достоинства SiO2
[править | править код]- SiO2 — "родной" для кремния материал, поэтому легко из него получается
- SiO2 можно легко стравить с подложки с помощью плавиковой кислоты (HF), не повредив кремний
- SiO2 является барьером для диффузии бора, фосфора, мышьяка
- SiO2 является хорошим изолятором (имеет высокую напряжённость пробоя)
- SiO2 стабилен до 10−9 Тор (10−7 Па) и T > 900 °C
- SiO2 не растворяется в воде
Режимы термического оксидирования
[править | править код]- T = 700 — 1300 °C
- p = 0,2 — 1,0 атм
- толщина слоя SiO2 : 0,03 — 2 мкм
- длительность процесса: 3 — 6 часов
Виды термического оксидирования
[править | править код]- Сухое оксидирование
- Влажное оксидирование
- Паровое оксидирование
Это заготовка статьи об электронике. Помогите Википедии, дополнив её. |
В другом языковом разделе есть более полная статья Thermal oxidation (англ.). |