Просвечивающий растровый электронный микроскоп (HjkvfycnfgZpnw jgvmjkfdw zlytmjkuudw bntjkvtkh)
Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ — сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, англ. scanning transmission electron microscope, STEM) — вид просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование.
Обычно ПРЭМ — это традиционный просвечивающий электронный микроскоп, оснащенный дополнительными сканирующими линзами, детекторами и необходимыми схемами, однако также существуют и специализированные ПРЭМ приборы.
История
[править | править код]Первый просвечивающий растровый электронный микроскоп был изобретен бароном Манфредом фон Арденне в 1934 году[1][2], когда работал в Берлине в компании Siemens. Однако, в то время результаты были незначительны по сравнению с просвечивающим электронным микроскопом, и Манфред фон Арденне проработал над ним только 2 года. Микроскоп был уничтожен при воздушной бомбардировке в 1944 году и фон Арденне не вернулся к работе над ним после Второй Мировой Войны[3].
Коррекция аберраций и высокое разрешение
[править | править код]Применение корректора аберраций позволяет получить электронный зонд суб-ангстремного диаметра, что заметно увеличивает разрешение.
Достижение высокого разрешения требует также стабильных комнатных условий. Для получения изображений атомного разрешения комната должна быть ограничена от вибраций, температурных флуктуаций и внешних электромагнитных полей.
СХПЭЭ (EELS) в режиме ПРЭМ стала возможна с добавлением соответствующего спектрометра. Высокоэнергетический сведённый электронный пучок в ПРЭМ несет локальную информацию об образце вплоть до атомного разрешения. Добавление СХПЭЭ позволяет производить определение элементов и даже дополнительные возможности в определении электронной структуры или химических связей атомных колонок.
Рассеянные на малые углы неупругие электроны используются в СХПЭЭ совместно с упруго рассеянными на большие углы электронами в ADF (кольцевой темнопольной ПРЭМ) позволяя получать оба сигнала одновременно.
Данная техника популярна в ПРЭМ микроскопах.
См. также
[править | править код]Примечания
[править | править код]- ↑ von Ardenne, M. Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen (нем.) // Zeitschrift für Physik : magazin. — 1938. — Bd. 109, Nr. 9—10. — S. 553—572. — doi:10.1007/BF01341584. — .
- ↑ von Ardenne, M. Das Elektronen-Rastermikroskop. Praktische Ausführung (нем.) // Z. Tech. Phys. : magazin. — 1938. — Bd. 19. — S. 407—416.
- ↑ D. McMullan, SEM 1928—1965. Дата обращения: 18 ноября 2019. Архивировано 22 января 2018 года.
Ссылки
[править | править код]- Introduction to Transmission/Scanning Electron Microscopy and Microanalysis, Argonne National Laboratory
- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization, ORNL
- The Application of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) to the Study of Nanoscale Systems (Chapter 1) / T. Vogt et al. (eds.), Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, Nanostructure Science and Technology, 2012, ISBN 9781461421900, DOI:10.1007/978-1-4614-2191-7
 | В другом языковом разделе есть более полная статья Scanning transmission electron microscopy (англ.). |
 | Это заготовка статьи по физике. Помогите Википедии, дополнив её. |
| Передающие | |
|---|---|
| Приёмные | |
| Запоминающие | |
| Электронный микроскоп | |
| Прочие | |
| Основные части | |
| Понятия | |
