Ультрамикроскоп (Rl,mjgbntjkvtkh)
Ультрамикроскоп — оптический прибор для обнаружения частиц столь малых размеров, что их нельзя наблюдать в обычные микроскопы. В ультрамикроскоп наблюдаются не сами частицы, а большие по размерам пятна дифракции света на них. При сильном боковом освещении каждая частица выглядит как яркая точка на темном фоне. Ультрамикроскоп не дает оптические изображения исследуемых объектов. В зависимости от конструкции, параметров частиц и среды можно обнаружить частицы размерами от 0,02…0,05 до 1…5 мкм.[1] Для взвеси металлических частиц в воде возможно обнаружение частиц размером 0,002 мкм.[2][3] Пределы разрешения наиболее сильных оптических микроскопов составляют 0,2 мкм.[4][5] Ультрамикроскопия является частным случаем метода темного поля в проходящем свете, при освещении направленном перпендикулярно направлению наблюдения.[6]
Использование
[править | править код]Ультрамикроскопия позволяет определять концентрацию неоднородностей и изучать их природу. При необходимости определения их размеров используют нефелометрию.[6] При этом в качестве параметра частицы в рамках дисперсионного анализа с помощью ультрамикроскопа или проточного ультрамикроскопа могут измерять интенсивность света, рассеянного отдельной частицей.[7] Ультрамикроскоп может применятся не только для изучения частиц, которые не могут быть обнаружены микроскопом, но и для всех случаев когда важно число и движение частиц, а форма и их строение роли не играет.[8]
Применяется при исследовании дисперсных систем, для контроля чистоты воздуха и воды и т. д.
Примером использования ультрамикроскопа для изучения наночастиц может служить метод анализа траекторий наночастиц.
Устройство
[править | править код]Работа ультрамикроскопа основана на эффекте Тиндаля.[9] Щелевой ультрамикроскоп в 1903 году создали Генри Зидентопф и Рихард Зигмонди. Поточный ультрамикроскоп был разработан в 1940—1950-х годах Б. В. Дерягиным и Г. Я. Власенко.[1]
См. также
[править | править код]- Оптический микроскоп
- Сканирующий атомно-силовой микроскоп (AFM, SPM)
- Сканирующий туннельный микроскоп (STM)
- Сканирующий электронный микроскоп (SEM)
- Сканирующий ёмкостной микроскоп (SCM)
- Просвечивающий электронный микроскоп (TEM)
- Микроскоп ближнего поля (SNOM)
- Оптические системы
Примечания
[править | править код]- ↑ 1 2 Ультрамикроскоп//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
- ↑ Микроскопия оптическая//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- ↑ Ультрамикроскопия//Химическая энциклопедия. Том 5. ТРИ — ЯТР —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
- ↑ Микроскоп оптический//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- ↑ Микроскоп оптический//Новый политехнический словарь —М.: Большая Российская энциклопедия, 2000
- ↑ 1 2 Оптика неоднородных сред//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- ↑ Дисперсионный анализ//Химическая энциклопедия. Том 2. ДАФ — МЕД —М.: Большая Российская энциклопедия, 1990
- ↑ Дерягин Б.В., Власенко Г.Я. Поточная ультрамикроскопия//Природа N 11 ноябрь, 1953
- ↑ Тиндаля эффект//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
 | В статье не хватает ссылок на источники (см. рекомендации по поиску). |